Найдётся всё! Скачать бесплатно! !!!База ГОСТов ежемесячно обновляется!!!
НОРМАТИВНЫЕ ДОКУМЕНТЫ ЗДЕСЬ
Информационная система МЕГАНОРМ
Сортировка от ГОСТов по индексу ( по каждой ссылке открывается 100 ГОСТ в заданном диапазоне номеров)
Для поиска по странице нажмите на клавиатуре CTRL+F
Главная

ГОСТы

Типовые проекты
ГОСТы 2011года
ГОСТы 2012года
ГОСТы 2013года
Помощь сайту
 

ГОСТ Р 8.697-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа

Обозначение:ГОСТ Р 8.697-2010
Статус:действующий
Название рус.:Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа
Название англ.:State system for ensuring the uniformity of measurements. Interpenar spacings in crystals. Method for measurement by means of a transmission electron microscope
Дата актуализации текста:19.06.2012
Дата актуализации описания:19.06.2012
Дата введения в действие:01.09.2010
Область и условия применения:Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и иных образцах толщиной не более 200 нм с помощью просвечивающего электронного микроскопа.
Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 10,00 нм в режиме дифракции и в диапазоне линейных размеров от 0,2 до 10,0 нм в режиме изображения


ГОСТ Р 8.697-2010
ГОСТ Р 8.697-2010
ГОСТ Р 8.697-2010
ГОСТ Р 8.697-2010
ГОСТ Р 8.697-2010
ГОСТ Р 8.697-2010
ГОСТ Р 8.697-2010
ГОСТ Р 8.697-2010
ГОСТ Р 8.697-2010
ГОСТ Р 8.697-2010
ГОСТ Р 8.697-2010
ГОСТ Р 8.697-2010
ГОСТ Р 8.697-2010
ГОСТ Р 8.697-2010
ГОСТ Р 8.697-2010
ГОСТ Р 8.697-2010



www.gost-load.ru

???????@Mail.ru