Найдётся всё! Скачать бесплатно! !!!База ГОСТов ежемесячно обновляется!!!
НОРМАТИВНЫЕ ДОКУМЕНТЫ ЗДЕСЬ
Информационная система МЕГАНОРМ
Сортировка от ГОСТов по индексу ( по каждой ссылке открывается 100 ГОСТ в заданном диапазоне номеров)
Для поиска по странице нажмите на клавиатуре CTRL+F
Главная

ГОСТы

Типовые проекты
ГОСТы 2011года
ГОСТы 2012года
ГОСТы 2013года
Помощь сайту
 

ГОСТ 18986.7-73

Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда

Обозначение:ГОСТ 18986.7-73
Статус:действующий
Название рус.:Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
Название англ.:Semiconductor diodes. Methods for measuring life time
Дата актуализации текста:19.03.2013
Дата актуализации описания:19.03.2013
Дата введения в действие:01.01.1975
Область и условия применения:Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ.
Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ
Список изменений:№0 от 24.06.1987 (рег. 24.06.1987) «Срок действия продлен»
№1 от 01.02.1983 (рег. 27.08.1982) «Срок действия продлен»


ГОСТ 18986.7-73
ГОСТ 18986.7-73
ГОСТ 18986.7-73
ГОСТ 18986.7-73
ГОСТ 18986.7-73
ГОСТ 18986.7-73



www.gost-load.ru

???????@Mail.ru